GB11158- 2008高溫試驗箱技術(shù)條件
GB11158- 2008低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592- 2008高低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗A:低溫(IEC60068-2- 1:2007)
GB/T2423.2- 2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗N:溫度無(wú)變化(IEC60068-2-1:2007)
GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分:低溫試驗
本產(chǎn)品是根據用戶(hù)要求,參照GB2423[1].02高溫試驗方法、GB2423[1].01低溫試驗方法相應技術(shù)條件制造。主要為航天、航空、石油、化工、汽車(chē)(摩托車(chē))、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫度變化環(huán)境,